ダイナミックイメージング解析 (DIA)

レーザー光遮断法、レーザー回折法、コールターカウンター法などの標準的な粒子測定方法は、粒子が球形であることを前提としているため、粒子の真の形状を正確に評価することが困難です。その結果、不規則形状の粒子、細長い繊維、汚染物質、ならびに複雑な形態を有する粒子・粉末については、信頼性の高い検出が行えなかったり、実際とは異なる特性評価がなされたりする場合があります。
 
多くの産業分野においては、「粒子が全体に存在すると仮定した平均粒径データ」にとどまらず、より詳細な情報が求められています。
こうした技術要求に応えるため、ビジョン・アナリティカル社は、実際の測定画像に基づき、粒子の形状や濃度を直接捉えるイメージングベースの粒子解析ツールを構築し、その結果として、ダイナミックイメージング解析方式を採用した「ラプター」を開発しました。
 
静的画像解析システムは自動顕微鏡で、非常に優れた画像品質を提供しますが、多くの粒子の代表的な結果を得るにはかなりの時間が掛かりますが、動的画像解析システムは、流動下で粒子の解析を可能にし、数分で数万個の粒子の特徴付けを行い短時間で統計的な結果を出力します。また、凝集物や少量のコンタミもサムネイル画像で客観的な証拠として検出・特徴づけることも可能です。
 
粒子サイズ情報だけでなく、形状に基づいて重要な意思決定を行うための詳細情報や解析ツールが現場では要求されています。粒子画像だけでも不十分で、長年にわたり製品改善に携わってきた弊社が開発した動的画像解析システムは、32以上の形状パラメータ情報を活用し、高品質な画像と併せて粒子分類、粒子相関、粒子濃度、粒子輪郭線など多くの解析ツールを提供します。

アメリカ合衆国フロリダ州マイアミに拠点を置き、数十年にわたる測定機器の開発経験に根ざした技術主導の企業です。動的画像解析をコア技術として活用し、マルバーン社マスターサイザー3000の特性評価手法を支援する機器やソフトウェアの開発も行っており、製品ラインは、サイズ、形状、濃度が粒子特性評価の重要なパラメータとなる特定の用途向けに多数のバージョンが開発されています。

ラプターシリーズは、動的画像解析技術を用いて、流れの中で粒子のランダムな配向を捉えつつ粒子を直接撮像し、1粒子ずつ大量に情報を取得し、粒子サイズ・形状・濃度・個数 を同時に解析でき、レーザー回折法や静的画像解析とは異なる特徴を持っています。
解析には高速カメラと専用ソフトを用いて、画像に基づく信頼できる分析が可能です。

ダイナミックイメージング解析（DIA：動的画像解析）方式の粒子計測機は、粒子のサイズ分布だけでなく、形状・個数・濃度・異物の有無を画像で評価できる点が特長です。実画像による高い信頼性があり、球形仮定に依存しない形状解析であるため、異物・繊維・凝集体の確実な検出が可能となり、品質管理から研究用途まで幅広くご使用いただけます。
そのため、以下のような分野・用途で広く活用されています。